Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках

Зохиогч: Вавилов В.С; Кив А.Е; Ниязова О.Р.


Гаралтын мэдээ: М Наука 1981

Шифр: 22.37 В-12.
Номын сан:
Эрдэм шинжилгээний фонд (3).



Бэлэн (3).

Номын байршил
МУИС-ийн номын сан catalog › Details for: Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках
Номын сангийн нэр Дансны дугаар Төлөв Буцаах огноо
Эрдэм шинжилгээний фонд
30454 Бэлэн
Эрдэм шинжилгээний фонд
70859 Бэлэн
Эрдэм шинжилгээний фонд
1587040 Бэлэн