Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках (Бичлэгийн дугаар. 58711)
000 -УДИРДЛАГА
Удирдлага 01152 a2200265 4500
003 - ХЯНАЛТЫН ТОО ТОДОРХОЙЛОГЧ
Код MN-UlNUM
005 - БИЧИЛТ ХИЙСЭН ОГНОО
Тухайн бичилтийг бичсэн засварласан сүүлийн огноо 20180824091529.0
008 - ЕРӨНХИЙ МЭДЭЭЛЭЛ
Ерөнхий мэдээлэл 110605s9999 xx 000 0 rus d
084 ## - ББК АНГИЛАЛ
ББК ангилал 22.37
Зохиогчийн гурван тэмдэгт В-12
Нэмэлт тусгалт Бусад
Мэдлэгийн ялгаа 2 - Байгалийн шинжлэл
100 1# - ЗОХИОГЧ
Зохиогчийн нэр Вавилов В.С.
240 10 - Шифр - Номын наалт, тайланд хэрэглэх
Ангилалын дугаар /Зохиогчийн 3 тэмдэгт 22.37 В-12
245 10 - ҮНДСЭН ГАРЧИГ
Номын нэр Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках
260 ## - ГАРАЛТЫН МЭДЭЭ
Хэвлэгдсэн газар М
Хэвлэлийн газар Наука
Хэвлэгдсэн он 1981
300 ## - МАТЕРИАЛЫН ТОДОРХОЙЛОЛТ
хуудасны тоо 368
500 ## - Тайлбар
Дансны дугаар ЭШФ С-30454, 70859, 87040
546 ## - ХЭЛНИЙ ТУХАЙ МЭДЭЭ
Хэл Орос хэл дээр,
653 ## - Түлхүүр үг
Түлхүүр үг физика
653 ## - Түлхүүр үг
Түлхүүр үг физика полупроводников
653 ## - Түлхүүр үг
Түлхүүр үг радиоционные дефекты
700 1# - ХАМ ЗОХИОГЧИД
Ба бус Кив А.Е.
700 1# - ХАМ ЗОХИОГЧИД
Ба бус Ниязова О.Р.
740 ## - НОМЫН ГАРЧИГ
Гарчиг Представления о простейших дефектах
-- Элементарный акт образования и миграции дефектов
-- До пороговое дефектообразование в атомарных полупроводниках
-- Активационные процессы при ионной имплантации
942 ## - ЭЛЕМЕНТИЙН ТӨРӨЛ
Зүйлийн төрөл Ном